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NanoSampler纳米粒度仪自动进样器
系统样品容量: 2个平板上96个1.5 mL样品瓶单次最小上样量: 750 µL单管进样量: 1-3 可编程样品粘度最大值: 6.44 cP移行
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IG-1000Plus 单纳米粒度测定装置
µL,精确度为5%。*由日本岛津公司作为专用配件出售,如需要可从岛津订货。 IG方法不使用散射光,所以它不受物理限制,并且它不需要输入折射率作为测量条件。因此它使得纳米粒子的测量变得简易,并具有
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美国CHDF3000型高精度纳米粒度仪
CHDF3000型高精度纳米粒度仪技术参数:1)样品瓶数量:72;2)样品瓶尺寸:12mm,2ml;3)每小瓶注射次数:每个样品最低可以重复运行15次,数据可以自动保存和打印;4)自动样品混合
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德国新帕泰克NANOPHOX/R纳米粒度仪
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美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪
美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数:所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减
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Nanolink S900/ SZ900纳米粒度仪
S900是基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统,被广泛应用于有机及无机颗粒、乳液、高分子聚合物、表面活性剂、胶素、病毒抗体、蛋白质等样品的颗粒表征。SZ900除了具备颗粒表征功能外,还能
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CHDF4000 高分辨率纳米粒度仪
CHDF4000 高分辨率纳米粒度仪技术参数:样品瓶数量:72;样品瓶尺寸:12mm,2ml;每小瓶注射次数:每个样品最低可以重复运行15次,数据可以自动保存和打印;自动样品混合:在分析之前
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Amerigo高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪
13099-2 : 2012 – 胶体系统 – zeta电位测试方法 – Part 2 :光学方法 Amerigo原位纳米粒度和zeta电位分析仪基于最新技术的动态光散射(DLS)和激光多普勒
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BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪
●电泳光散射●静态光散射 BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS
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BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪
颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数 产品介绍BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano
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