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硅晶圆检测仪SIT-200
SIT-200 硅晶圆检测仪是Alnair Labs 公司采用高速扫频激光器,利用干涉计量的方法设计制造的用于硅晶圆厚度检测的干涉仪。与常规测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备很高的功率谱
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A36双晶64晶片线性探头
将其提升了一个档次,从而产生双 64 通道的线性配置。双晶64晶片线阵一发一收探头具有高阵元数的配置,搭配使用 OmniScan™ X3 64相控阵探伤仪,非常适合检测大壁厚的高衰减材料焊缝检测
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纳米材料表征共聚焦显微镜
纳米材料表征共聚焦显微镜主要采用3D捕获的成像技术,使其具有较高的三维图像分辨率。横向分辨率更高,所展示的图像形态细节更清晰更微细,能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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永磁小动物核磁共振成像系统
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永磁铁磁轭
YM-5是一款便携式永磁体磁轭,设计有铰链式可旋转磁轭脚,适用于多种形状的被测表面。而磁轭脚端头形状特殊,便于从工件表面移除。 它提供了一种便携、易用的磁化工件的探伤方法,无需供电。YM-5的
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永磁铁磁轭
YM-5是一款便携式永磁体磁轭,设计有铰链式可旋转磁轭脚,适用于多种形状的被测表面。而磁轭脚端头形状特殊,便于从工件表面移除。 它提供了一种便携、易用的磁化工件的探伤方法,无需供电。YM-5的手柄
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永磁铁磁轭
YM-5是一款便携式永磁体磁轭,设计有铰链式可旋转磁轭脚,适用于多种形状的被测表面。而磁轭脚端头形状特殊,便于从工件表面移除。 它提供了一种便携、易用的磁化工件的探伤方法,无需供电。YM-5的手柄
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安东帕NST³纳米划痕仪
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安东帕NHT³纳米压痕仪
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