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Agilent 全能型分光光度计 (UMS)紫外安捷伦 可检测涂层晶圆
安捷伦紫外Cary 7000用于测定涂层晶圆,符合行业标准。适用反射率,透射率 项目。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。Cary
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超净工作台
为实验样品提供充足保护,达到ISO 五级标准,提供无菌高洁净工作环境的实验工作台 超净工作台可提供ISO五级标准的操作环境。通过HEPA过滤后的空气垂直向下直接进入工作区,以
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安东帕Litesizer 100纳米粒度分析仪 表征溶液中纳米颗粒
只需按下按钮即可进行颗粒分析 Litesizer™ 100 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射(DLS)来测定颗粒尺寸。
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纳米压痕仪安东帕纳米压痕 应用于高分子材料
安东帕纳米压痕仪NHT³可用于测定其他,适用于其他项目。并且参考多项行业标准暂无。可应用于高分子材料行业领域。 本应用报告主要介绍麻省理工学院土木工程系(麻省理工学 院)正在开发的一些应用,安东帕
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硅晶圆检测仪SIT-200
SIT-200 硅晶圆检测仪是Alnair Labs 公司采用高速扫频激光器,利用干涉计量的方法设计制造的用于硅晶圆厚度检测的干涉仪。与常规测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备很高的功率谱
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。•拉曼光谱的强度、频移、线宽
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A36双晶64晶片线性探头
在近期发布了全新A36双晶64晶片线性探头。全新A36双晶64晶片线性探头的推出,将在大壁厚情形下,协助塑造更为优质的焊缝检测解决方案。更强穿透力A36双晶64晶片线性探头通过将通道数量加倍,进而
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徕卡超景深视频显微镜立体、体视 应用于纳米材料
徕卡立体、体视Leica DMS1000可用于测定无,适用于DM6 M微观结构成分分析解决方案项目。并且参考多项行业标准圆派科学官网。可应用于纳米材料行业领域。 微观结构成分分析解决方案 DM6 M
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超景深视频显微镜徕卡立体、体视 应用于纳米材料
(徕卡显微镜) 超乎您的想象 Leica DMS1000徕卡超景深视频显微镜产品规格下载性能与优点Leica 超景深视频显微镜DMS1000技术规格及性能阐述 规格综述Leica DMS1000视频
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超景深视频显微镜徕卡视频、电视 应用于纳米材料
徕卡超景深视频显微镜Leica DMS1000参考多项行业标准圆派科学仪器。完成各种样品的检测。可以用在汽车/铁路/船舶行业领域中的超景深显微镜项目。 带你走进超景深显微世界--徕卡超景深显微镜
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