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安东帕NST³纳米划痕仪
主要特点施加较小的载荷时具有极快的响应时间纳米划痕测试仪带有载荷传感器,采用双悬臂梁用于施加载荷,以及压电式驱动器用于对施加的载荷快速响应。这一设计理念还修正了在划痕过程中发生的任何事件(例如出现
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安东帕NHT³纳米压痕仪
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安东帕NHT³纳米压痕仪
主要特点最简单易用的纳米压痕测试仪最直观易用的软件:用简单的参数(最大载荷)、统计数据分析和保存的测试方案模板轻松开始测试适用于表面的不同放大倍数的多物镜视频显微镜最坚固耐用的纳米压痕测试仪:参比
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安东帕NST³纳米划痕仪
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(原FEI) 赛默飞Verios XHR SEM 金属行业微观分析解决方案
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(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本
SEM 的观测能力进一步拓展至 20 nm 亚纳米量级半导体器件。Verios 可提供最佳的低电压 SEM 分辨率和材料对比度,能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM
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透射电镜(原FEI) Verios XHR SEM 应用于地矿/有色金属
检测器硬件,将 SEM 的观测能力进一步拓展至 20 nm 亚纳米量级半导体器件。Verios 可提供最佳的低电压 SEM 分辨率和材料对比度,能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法
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(原FEI) Verios XHR SEM透射电镜 电子显微镜产品目录
SEM 推出了全新的检测器硬件,将 SEM 的观测能力进一步拓展至 20 nm 亚纳米量级半导体器件。Verios 可提供最佳的低电压 SEM 分辨率和材料对比度,能够让半导体工艺控制实验室测量对
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Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本
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纳米SALD-7500nano 激光粒度仪SALD-7500NANO 应用于纳米材料
点击查看下载纳米SALD-7500nano 激光粒度仪SALD-7500NANO 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 SALD系列包含多款产品,适合多种粒度范围测量。请根据您的测量范围选择更佳
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