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TB系列 比表面积及孔径 同步分析仪
概述TB系列比表面积及孔径分析仪,是北京精微高博科学技术有限公司最新推出的表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。该仪器采用最常用、最可靠的静态容量法气体吸附法分析材料的吸附行为。测试过程中多个
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BSD-PS 比表面积及孔径分析仪
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比表面及微孔分析仪JW-BK132F
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核磁共振交联密度成像分析仪
核磁共振交联密度成像分析仪集成了样品控温系统,专用于橡胶、高分子材料的高温测试,获得温度变化过程中样品的物性变化信息,尤其擅长交联密度快速测试。
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微孔分析比表面测试仪
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孔隙度比表面分析仪
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Langmuir比表面
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BET比表面
,量程宽,精度高、感应快、稳定性好;压力传感 器精度为0.15%(读值),比满量程标定的精度提高25倍,为国际zei高水平; 设有4个样品分析位,4个样品预处理位,测试系统与预处理系统可同时工作,互不
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土三轴核磁成像分析仪
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BSD-BET400 全自动快速比表面分析仪
高效率:全世界测试效率最高的比表面测试系统;BSD-BET400配合BSD-AD8八站预处理机,分析能力可达12个样品/小时,且包含30min预处理
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