适用于纸张、晶片、薄片等样品分析,直接烧蚀进样不需破坏样 品。应用于司法鉴定、考古学、半导体材料分析等领率。 • 样品厚度
定值单位: 中国科学院地质研究所、中国科学院南海海洋研究所、中国科学院地球化学研究所、中国科学院青海盐湖研究所、北京大学考古系、厦门大学海洋系、成都地质学院九室、地矿部南海地质调查指挥部实验室、国家海洋局第三研究所
光谱图。 奥林巴斯Innov-X系列X荧光光谱仪产品已经被广泛应用于地质、采矿、金属、土壤、环境、考古、木材、电子、医药、环保、啤酒、电力、石化、玩具、大型工程、锅炉制造、再生资源金属、玻璃的回收、刑事证据鉴定等各种不同领域的日常分析
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