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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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TRACE 6000 膜进样光电离飞行时间质谱仪
产品概述TRACE 6000是一款紧凑型挥发性有机物(VOCs)实时分析质谱仪,该仪器采用膜进样技术、光电离技术和飞行时间质谱技术,具有定性定量能力强、灵敏度高、分析速度快、线性范围广、操作简单
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/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+岛津 可检测膜材料
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+可以用在多个行业领域,用来检测膜材料 ,可完成其他 项目。符合多项行业标准/ VBA。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统,样品预
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪 测量池用于中空纤维膜
3 测量电池的范围:精细的测量池可容纳从粉末、纤维到平面固体等任何几何形状的样品。特定样品测量池用于隐形眼镜、中空纤维膜、挠性管、注射器和小瓶,可对复杂几何形状的样品进行表面电荷分析。“即插即用”功能
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热封膜仪
产品介绍 产品技术参数 YS-600热封膜仪,采用片膜密封形式,气泵按压,操作方便,噪 音小,性能稳定可长时间工作。适配多种耗材,可热封各种PCR 板、深孔板、微孔板,热封效果均一、平整。可防止各种
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FRITSCH/飞驰 Pulverisette 14 pl膜材料超微粉碎
【产品概述】Pulverisette 14 pl膜材料超微粉碎机集撞击力、剪切力于一身,有着更好的性能及冷却效果,与同类型产品相比,操作明显安静。它通过高速旋转的转子对样品进行切割,同时转子和筛圈
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TP-99010FDR 粉末供应装置(成膜)
TP-99010FDR 粉末供应装置用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。产品特点:用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。该台式送粉器能稳定地供给亚微米~100μm左右的微细颗粒。通过载气输送微细粉末
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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