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瑞宁移液器 Pipet-X 样本
点击查看下载瑞宁移液器 Pipet-X 样本相关资料,进一步了解产品。 新款梅特勒托利多Rainin XLS+多道移液器提高了对多道移液器的要求,并提升了其性能。Rainin XLS+重量减轻了35
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ICP-AESiCAP 7200iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪 适用于测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量
赛默飞ICP-AESiCAP 7200参考多项行业标准 iCAP 6000 Series ICP-OES。完成钴酸锂电池的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门、转头和传动装置加热样品隔板确保样品
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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艾卡IKA M 20 Universal mill通用M 20 通用研磨机 应用于高分子材料
点击查看下载艾卡IKA M 20 Universal mill通用M 20 通用研磨机 应用于高分子材料相关资料,进一步了解产品。 IKA M 20 Universal mill通用研磨机参数
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奥谱天成S11639滨松2048像素线列CMOS
S11639-滨松(Hamamatsu)2048像素线列CMOSPixel size: 14 × 200 μm;Position detection 2048 pixels
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