-
安捷伦LC/MSD iQ液质 适用于痕量杂质
安捷伦液质LC/MSD iQ适用于痕量杂质项目,参考多项行业标准。可以检测品牌药和仿制等样品。可应用于制药/仿制药行业领域。 - 智能早期维护反馈系统能够自动追踪仪器状态,并预测何时需要进行
-
赛默飞 IQLAAAGABHFAPBMBFJ UltiMate™ 3000 半制备系统 杂质纯化
值和电导率监测 (PCM-3000)馏分收集器 (AFC-3000)Chromeleon 7.2 软件包(独立、联网、远程数据处理和/或控制)推荐用途典型应用包括用于结构解析的副产物和杂质纯化,从
-
1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统
-
瑞宁移液器 Pipet-X 样本
点击查看下载瑞宁移液器 Pipet-X 样本相关资料,进一步了解产品。 新款梅特勒托利多Rainin XLS+多道移液器提高了对多道移液器的要求,并提升了其性能。Rainin XLS+重量减轻了35
-
紫外可见分光光度计752S棱光技术 紫外分光光度法同时测定面粉中过氧化苯甲酰 及其还原产物苯甲酸的含量
棱光技术紫外752S可用于测定面粉,适用于过氧化苯甲酰 及其还原产物苯甲酸项目。并且参考多项行业标准彭珊珊, 钟瑞敏, 李琳. 食品添加剂[M ]. 北京: 中国轻工业出版社, 2004.。可应用
-
紫外可见分光光度计752S紫外 可检测面粉
规格光学系统衍射光栅C-T单色器光源日本滨松氘灯(2000小时寿命)+钨灯波长范围190 nm~1100 nm波长准确度±2.0nm波长重复性≤0.5nm带宽2nm透射比准确度±0.3%T透射比
-
棱光技术紫外可见分光光度计752S 适用于过氧化苯甲酰 及其还原产物苯甲酸
棱光技术紫外可见分光光度计752S可用于测定面粉,适用于过氧化苯甲酰 及其还原产物苯甲酸项目。并且参考多项行业标准彭珊珊, 钟瑞敏, 李琳. 食品添加剂[M ]. 北京: 中国轻工业出版社
-
ICP-AESiCAP 7200iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪 适用于测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量
赛默飞ICP-AESiCAP 7200参考多项行业标准 iCAP 6000 Series ICP-OES。完成钴酸锂电池的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素
-
赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
-
赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net