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菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的zei合适
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手持式太阳光度计
MICROTOPS II 太阳光度计可以提供8个标准波长(340, 380, 440, 500, 675, 870, 936, 1020nm)气溶胶光学厚度和太阳径直辐射,选用波长
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暗视/明视表
技术参数:仪表技术规格:· 动态范围 2.6 x10^6 (6.5 digits) · 精度 Within 0.2% FS · 非线性 0.003% integral
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紫外辐射计
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菲希尔FMP30 测量铁素体含量
在奥氏体或双相钢必须承受高温、侵蚀性物质以及高压的情况下,铁素体含量至关重要。特别是涉及到化工厂、能源设施及工厂中的现场测量时,FISCHER 手持式设备的优势将非常显著。为
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菲希尔MP0/MP0R 系列
小巧、方便且稳固 – MP0 和 MP0R 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的外壳和耐磨损的探头,它们是可以直接用于现场可靠测量的理想设备。特性:由于极为
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。 FISCHERSCOPE
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散
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微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
改进,通过设计高宽径比的探针测试更深更窄的沟槽,还实现低载荷,高空间分辨以及原位载荷-位移数据精确测量。 纳米压痕 — 参照ISO14577认证标准,选取单点/多点压痕来测量薄膜、涂层和块体材料的硬度
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