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通用型测厚仪 - CMI255
日立分析仪器CMI255通用仪器为手持涂层厚度测量仪,主要用于需要快速、简易、精确和重复测量的专业质保人员。 与基础型的检测设备相比,该双重技术(磁感应与电涡流)仪器具有机载数据、更高的精度和
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台式微聚焦XRF镀层测厚仪 - 五金电镀
技术参数 正比计数器半导体高分辨率SDD探测器Zn / Fe, Fe 合金Cr / Fe, Fe 合金Ni / Fe, Fe 合金✔✔✔✔✔✔ZnNi / Fe, Fe 合金ZnSn / Fe
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日立接触式镀层测厚仪
我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。具有功能强大,用户界面良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。 技术参数 用于油漆和粉末涂层的型号 型号
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日立MAXXI / X-Strata 系列微焦斑 XRF 光谱仪
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析
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手持式通用镀层测厚仪 - CMI250
日立分析仪器CMI250手持式镀层测厚仪是一款灵便易用的仪器,它集精确、价格合理、 质量可靠等优势于一体,专为金属表面处理者设计。它适用于多种配置,可测量有色金属底材上的非导电涂层和钢铁底材上的
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日立Lab-X / X-Supreme 系列台式光谱仪
技术参数 LAB-X3500LAB-X5000X-Supreme8000元素范围Mg – UMg – UNa - U可容样本杯数量1110键盘双排薄膜键盘触摸屏触摸屏大气压力补偿有1有有
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台式微聚焦XRF镀层测厚仪 - PCB/半导体/电子行业应用
技术参数X-Strata 920正比计数器MAXXI 6高分辨率 SDD1ENIG✔✔✔✔ENEPIG✔✔✔✔化学镀镍厚度及成分 (IPC 4556, IPC 4552
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日立Foundry-Master Xpert 直读光谱仪
技术参数 高度/宽度/深度380 毫米 / 15.0 英寸 740 毫米/ 29.1 英寸 880 毫米/ 34.6 英寸重量100千克/ 220 磅20 lbs”电源90 – 250
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带温度补偿功能的面铜测厚仪 - CMI165
日立分析仪器CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪,它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度,范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米) 日立分析仪器
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1stGuard-1064拉曼光谱仪
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