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近在用碳纳米管阵列抽滤做薄膜,遇到个难题:现在实验室制备的碳纳米管阵列在1.5mm左右,但是从1cm*1cm的硅片上刮下来放在电子天平上称量都没有反应,太轻了, 一些刮下来的小块体积放进烧杯里都能飘出来:tiger15:
所以无法精确
2015年05月12日发布人:xgy412
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大家好,我有一个大约一微米厚的薄膜,现在想测试XRD, 表征薄膜的取向特征,但是我发现试样太薄了,怎么测都没有信号出现呀。
想请教大家有没有什么好的解决办法,TEM是不是更好一点,TEM是不是更好一点,我感觉TEM只是测试的一个很小
2016年04月10日发布人:nmn
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[size=2][color=Black][求助]薄膜包衣片含量测定
包衣材料:普通胃溶型。我分别尝试了除包衣和不除包衣测定片子含量:
1.过筛除包衣,存在问题药物粘在包衣上损失,且包衣除去不完全。
2.直接研磨
2011年11月24日发布人:孢子11
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求助,薄膜怎么进行[url=http://www.antpedia.com/?action_mygroup_gid_88]红外光谱[/url]测试?由于膜的任性很好,没法搞成粉末!直接测试,膜又太厚,,,,。请帮忙,可以用压片机适当压一下
2011年01月03日发布人:282850063
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实验中用扫描电镜看薄膜截面时,玻璃基底不知怎的老是发亮光,而且聚焦时由于发生漂移而无法成功聚焦得到清晰的薄膜断面图像,而看到文献中报道的的薄膜器件截面图都很清晰,请问该问题是什么原因造成的?操作电镜或样品制备过程中如何避免呢?谢谢,发亮
2015年09月24日发布人:8899
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我公司有一台CMI900测厚仪,最近搞个新项目,铜基材上镀镍磷,钯,金,测厚时发现当钯镀得比较薄,或者没有镀钯时,测出的结果钯都有7微英寸以上,但用标准片(钯的标准片厚度为14.4微英寸)校准时,测出的结果又是准确的,而且镀得比较厚时又比
2014年11月08日发布人:jiushi
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成功发布会了,研发上还是比较其他国产厂家有点实力的。主要还是看你检测什么东西,要求高不高,进行合理配置。解决问题还是最关键的。价格作为次考虑。[/size],[size=2]其实最关心的还是色谱柱的稳定性;楼上的凭啥说“研发上还是比较其他国产厂家
2015年11月19日发布人:moonlight
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大家好,我有一个大约一微米厚的薄膜,现在想测试XRD, 表征薄膜的取向特征,但是我发现试样太薄了,怎么测都没有信号出现呀。
想请教大家有没有什么好的解决办法。,TEM是不是更好一点,TEM是不是更好一点,我感觉TEM只是测试的一个
2016年03月05日发布人:jiushi
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本人制备了一个非晶Si薄膜的平面样品,但是在图像中看到许多黑色条纹带,这是否是因为薄膜中应力应变造成?(因为是离子减薄的样品)
请大侠指教!,上个照片看看,记得一定带标尺。,请指教,谢谢!
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2010年06月13日发布人:2009
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怎么看薄膜截断面形貌??
薄膜断面怎么制备?制备断面的时候不能对薄膜结构、形貌有损伤。
我的薄膜厚度大概是50-60nm,聚合物薄膜。,将待测试样先用环氧树脂和凝固剂进行冷镶,然后再进行磨样和
2015年01月16日发布人:mico_11