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我在碳纳米纤维上用物理溅射法镀了一层Au,Au用透射电镜(TEM)看呈纳米(约10nm左右)颗粒,没有形成连续的薄膜。后采用入射角为3度的掠入射来做了GIXRD谱图。请问可以采用XRD的数据来计算纳米颗粒粒径?计算结果是否可以采用?,计算
2010年12月08日发布人:lucky
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恳请高手指点!有教程的更好!,用粉末解析结构? 有难度,同求教~~~,如果是XRD单晶测试数据,估计你也不会问这个问题了。,建议你看一看《粉末衍射法测定晶体结构》梁敬魁院士的大作。看完你就知道是咋回事儿了。
2011年06月24日发布人:古灵
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不知大家有没有做过EFTEM mapping,它对样品要求是否跟EELS 样品越薄越好呢?,当然,凡是跟eels相关的,一般来说都是样品越薄越好,透射里的实验感觉所有都需要越薄越好啊,好像做成分分析和衍衬分析的时候,太薄了获得的效果不太好
2014年09月10日发布人:但是
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想做小麦种子的红外光谱分析,不想用压片法制样,因为想检测小麦种子的红外分布图像,能否有其他制样方法?谢谢,楼主,那就用漫反射法试试呗,但是不敢保证一定能行。。,[quote]原帖由 [i]Bright0328[/i] 于
2010年01月17日发布人:Bright0328
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的仪器的发散狭缝是固定的, 有几个备用的换.,对于平板试样,光束的中轴线右边的光斑面积会比左边的要稍微大点,此时面积公式就变成:
[1/Sin(θ+β/2) + 1/Sin(θ-β/2) ]Rsin(β/2)=2A
β:发散狭缝角度
R: 衍测角仪半径,敢化简么?,找个荧光板一看便知
2015年04月29日发布人:风往尘香
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刚学习衍衬理论知识,理解通过不同的衍射矢量g1,g2 (当分别用g1,g2成像,位错线衬度消失时)
根据联立方程 g1.b=0 及g2.b=0 可求出位错的柏氏矢量b
原理是与两条非平行的矢量均垂直即可确定方向,但好像方程组只能
2015年01月31日发布人:ay123
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要测活性炭的粒度,用马尔文纳米粒度仪,但是需要知道活性炭的吸光度和折光率,请问哪位知道这两个数据?,可以从国标上查到很多种材料的折射率,以及部分常用分散介质的折射率。
GB/T 19077.1-2003 粒度分析 激光衍射法 里面很多
2013年05月17日发布人:舞疯
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。,分析的有道理,使用电路的电磁噪音对光谱应该有影响的,关于近红外测量液体的进展,希望多分享。
中国农大的 严衍禄 老师,指导过一篇:
噪声对近红外光谱分析的影响及相应的数学处理方法
以玉米籽粒的粉末样品为例,对噪声较高近红外光
2015年02月03日发布人:shuishui
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最近做XRD课件,总结了些多晶x射线衍射的仪器各部件,发上来分享一下。
首先,看下多晶X射线仪的总结构:如下图1
1. X射线源:X射线发生器+光路
2. 测角器:安装试样及样品室、确定衍
射线位置、安装光学元件和探测器等
3.
2010年12月06日发布人:lifejourney
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刚学习衍衬理论知识,理解通过不同的衍射矢量g1,g2 (当分别用g1,g2成像,位错线衬度消失时)
根据联立方程 g1.b=0 及g2.b=0 可求出位错的柏氏矢量b
原理是与两条非平行的矢量均垂直即可确定方向,但好像方程组只能确定
2016年02月12日发布人:ay123