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西凡贵金属检测仪XF-A5SDD
XF-A5SDD是西凡仪器推出的一款畅销的高性能贵金属检测仪。该产品采用目前先进的美国定制SDD探测器,可广泛应用于珠宝首饰工厂以及回收、选矿、质检所等行业和单位。 XF-A5SDD是
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MXX-212精密天平
,同时也成为了电化学仪器行业的知名品牌。 MXX-212分析天平技术参数: •可读性:0.01g •量程:210 •秤盘尺寸:ø 97mm 美国丹佛电子
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西凡矿石粉末分析仪XF-M5
XF-M5矿石粉末检测仪是西凡仪器针对矿石、粉末等检测的一款高端X射线荧光光谱仪,可广泛应用于矿厂、冶金和三元催化剂回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制Fast SDD探测器,内置四核
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默克密理博 GMP级叔丁醇
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NH20-48*46-22
产品名称:NH20-48*46-22产品简介:抗静电ABS材料,最高耐温70摄氏度产品尺寸: 格子尺寸(mil):L48*W46*D22 格子尺寸(mm
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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紫外辐射测量 MS-212A
【产品型号及参数/Specifications】:Specifications (typical)MS-212WMS-212AWavelength range280
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