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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: CL2GAS000001旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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赛默飞H2PGA0202011 用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: H2PGA0202011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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西他沙星中间体 CAS:144282-37-1 乐研Leyan.com
乐研Leyan.com:致力于为医药研发提供高品质化学试剂服务。西他沙星中间体CAS No. :144282-37-1产品编号:1113104英文名称:(S)-tert-Butyl
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Agilent 三重四极杆液质联用系统液质6470 适用于α-羟基阿普唑仑
安捷伦液质6470用于测定尿液,符合行业标准暂无。适用α-羟基阿普唑仑项目。 添加浓度为MRL (10 μg/kg) 的250 多种农药的红茶提取物以及1:10 的乙腈稀释样品(对应浓度为0.2
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普析XRDX射线衍射仪 XD7系列
普析XRDX射线衍射仪 XD7系列X射线光源的数字控制XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试
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普析通用 XD-6/7系列衍射仪
XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线强度之间进行均衡选择,自行设定需要的试验条件,满足
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Multiwave GO Plus微波消解系统微波消解 可检测元素杂质Os
安东帕微波消解系统Multiwave GO Plus用于测定元素杂质Os,符合行业标准ASTM D4309。适用元素杂质Os项目。 使用Multiwave 7000可以促进在完全符合GMP要求的
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ICP-OES液质iCAP PRO系列 适用于杂质元素
赛默飞ICP-OESiCAP PRO系列适用于杂质元素项目,参考多项行业标准暂无。可以检测六氟磷酸锂电解液等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 随着新能源产业的不断发展,锂离子电池及其
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安捷伦1290 Infinity IIAgilent 液相色谱系统 适用于杂质
安捷伦Agilent 液相色谱系统1290 Infinity II可以用在制药/仿制药行业领域,用来检测奥美拉唑,可完成杂质项目。符合多项行业标准中国药典。 提高实验室效率可与当前实验室架构无缝
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液相色谱仪1260 Infinity II 安捷伦 适用于杂质鉴定
安捷伦液相色谱仪1260 Infinity II 用于测定色瑞替尼,符合行业标准。适用杂质鉴定项目。 信心十足地实现每日高效分析 连续稳定运行的液相色谱平台,值得您的信赖。 Agilent
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