-
赛默飞Verios 5 XHR SEM 扫描电子显微镜
带有单色器的电子枪,无论高低电压均可轻松实现亚纳米级分辨率;电子束着陆能量低至20 eV,对电子束敏感材料的表征非常友好;标配压电陶瓷样品台,实现优良的精确度和稳定性
-
Helios 5 Hydra DualBeam等离子聚焦离子束扫描电子显微镜
-
Phenom Pharos G2 用于高亮度成像的配备 FEG 源的桌面型扫描电镜
是带有 FEG 源的台式 SEM,可让每个人都能获得清晰、高亮度的图像,以及 FEG 源的优点。由于其直观、紧凑的设计,从初始安装到实际使用都非常方便。
-
赛默飞(原FEI)Talos L120C TEM透射电子显微镜
Talos L120C TEM 的平台式设计具备了模块多功能化,最高的稳定性及操作的便捷性,从而提供可靠的最佳成像性能。
-
Helios DualBeam™扫描电子显微镜
-
赛默飞Metrios AX TEM半导体计量透射电镜
-
赛默飞矿物参数自动定量分析系统
软件采用Maps软件进行数据采集,而Maps软件为显微镜自动化和关 联工作流程平台,软件界面直观,数据采集设置和运行比以往更加容易。二、矿物库包括超过 4,000 种矿物矿物库编辑软件
-
Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
-
Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X 射线光电子能谱仪
表面和界面分析充满了挑战,需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪,在保证数据质量和样品
-
赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
基于电子束的创新解决方案,用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。与光学方法相比分辨率提高了 10倍,确保了对最先进的半导体器件进行快速、准确和可靠的缺陷分析。
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net