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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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酸纯化系统(SZL-1000)
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菲希尔MP0/MP0R 系列
小巧、方便且稳固 – MP0 和 MP0R 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的外壳和耐磨损的探头,它们是可以直接用于现场可靠测量的理想设备。特性:由于
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ZJ-54D真空规
简单,量程较宽,响应较快,抗污染,耐氧化,漂移小,寿命长,性能稳定,价格适中等特点。特别适用于低真空测量。该型规管可以与ZJ-53B热偶规管互换使用。 真空规种类ZJ-54D真空规生产厂家成都睿宝
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Filmetrics 薄膜测厚仪 F54
点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易自动化薄膜厚度分布图案系统依靠 F54 先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得zei大直
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阿贝折射仪
:1.3000-1.7000 糖溶液质量分散(Brix):0-95% 准确度:±0.0002主要特点:采用目视瞄准,光学度盘读数,简单可靠。 测定液体或固体的折射率和糖水溶液中
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阿贝折射仪
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阿贝折射仪
数字阿贝折射仪-WYA-2S(1S)产品参数:测量范围: 折射率:1.3000-1.7000nD蔗糖质量分数(锤度Brix)显示范围:0~95%温度显示范围:0~50℃精度
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阿贝折射仪
。仪器用途此仪器可用来对透明或半透明固体和液体物质的折射率,平均色散和部分色散进行快速精确地测定(即能测定706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm
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阿贝折光仪
,50HZ,50W光: 589nm测量温度:0℃-99℃尺寸: 140X100X235mm重量:5kg/11 1bs 阿贝折光仪检测原理 阿贝折光仪可直接用来测定液体的折光率
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