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日立场发射扫描电子显微镜Regulus8200
。 “Regulus系列“是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌,包括作为SU8010的后续机型开发的 “Regulus8100“ 以及SU8200系列的升级
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聚焦离子束(FIB)微型采样系统用于STEM分析
优异的高效分析性能 微型采样方法(已在日本和美国取得zl)已在半导体器件分析领域成为一款工具,它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品,以便于STEM分析,其定位精度可达到0.1
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日立新型钨灯丝扫描电镜FlexSEM1000 II
主要特点:1. 体积小、操作简单、性能强(4nm@20kV)、扩展功能丰富2. 拥有多个探测器(SE、BSE)3. 拥有低真空功能,不导电和含水样品直接观察4
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UH5300双光束分光光度计
波长扫描(扫描范围:190至1,100 nm,扫描速度:200 nm/min)。 *2 日立高新技术公司的调查结果,截止2012年8月在日本销售的型号。 *3 对于系统的更多信息,请
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HF-3300场发射透射电子显微镜
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ZA3000偏振塞曼原子吸收分光光度计
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日立高新S-3700N超大样品仓扫描电子显微镜
,较高的样品。 最大样品直径达300 mm。 可观察范围直径达203 mm。 可对高达110 mm的样品进行观察和能谱分析。 通用型接口布局满足各种分析用途。 日立高新扫描电子显微镜
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F-7100荧光分光光度计
项目内容灵敏度(水拉曼峰)S/N 1,200以上(RMS)*1S/N 360以上(Peak to Peak)*1S/N 20,000以上(BG)*2测光方式单色光监控比率计算方式光源150W
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日立aloka PDM-313直读式中子个人剂量计
3.技术规格:探测的辐射类型中子探测器硅半导体探测器测量范围0.01 mSv --99.99mSv能量响应0.025eV--15MeV(详见下图)精确度±40%(用Am-Be源4.5MeV中子和
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日立全新大型钨灯丝扫描电镜SU3900
/超重样品测试 可搭载的最 大样品尺寸:“SU3800” 标配可搭载直径200mm样品的样品仓,可应对最 大高度为80mm、重量为2kg的样品。 “SU3900”作为日立高新技术的大型扫描电镜
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