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露点仪大连日普利LD-200/LD-220
大连日普利科技仪器有限公司许LD-200露点仪技术指标: 露点测量范围:-100-+20℃基本误差:≤±2℃模拟输出:4-20mA校准周期:12个月温度系数:温度补偿样气流
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Precisa 普利赛斯 321XJ 精密电子天平
年正式推出321XJ系列电子天平。 它基于普利赛斯正在热销的321系列天平MFR电磁力补偿传感器及底座,配置5英寸彩色触摸液晶屏,友好界面设计,全新电子线路,可拆卸无骨架风门,前置水平指示器,智能软件
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普利赛斯ES 125SM微量电子分析天平
Readability (mg): 0.01Min Capacity (g): 100 gCapacity: 125 gReadability: 0.01 mgRepeatability
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普利赛斯分析电子天平321LS120A-SCS
产地类别:校准方式: 智能内自校重复性: 0.0001g测量精度: 0.1mg最大量程: 120G仪器量程: 20-100g仪器精度: 万分之一克仪器种类: 分析天平 普利赛斯
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普利赛斯EP8200C-DR双量程电子精密天平
全铝合金铸造基座,抗腐蚀密封键盘高性能、高集成度的电子线路高磁能芯电磁平衡称重系统工作模块隔离,降低工作气流,称重结果更快更稳定人性化的人机对话方式标配近乎齐全的应用程序可以使用多种通讯功能
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普利赛斯 330XM水分测定仪(XM60系列)
向食品、制药、科研院所及检验检疫等提供一款快速水分仪测试仪,普利赛斯凭借其核心称重技术,开发了330XM系列电子水分测定仪,最高显示精度0.001%/ 0.1mg,明亮VFD显示,卤素灯加热(标配
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Precisa分析天平390系列Hx
RS232接口及1个B型USB接口 应用领域: 实验室称重分析、物质称重分析等。 普利赛斯390系列高端电子天平,zei高设计精度微量天平1ug/半微量天平10ug,配置7吋彩色触摸屏,全自动
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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