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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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iCAP RQICP-MS赛默飞 适用于分析药物产品中杂质元素
赛默飞ICP-MSiCAP RQ可用于测定药物产品,适用于分析药物产品中杂质元素项目。并且参考多项行业标准1. Multi-element Determination
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赛默飞ICP-AESiCAP 7400 适用于工业氢氟酸中杂质元素的分析
赛默飞ICP-AESiCAP 7400可以用在其他化工行业领域,用来检测氢氟酸,可完成工业氢氟酸中杂质元素的分析项目。符合多项行业标准要参考SJ/T 11554-2015 用电感耦合等离子体发射光
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Q Exactive GC Orbitrap 高分辨质谱系统气质赛默飞 适用于杂质
赛默飞气质Q Exactive™ GC Orbitrap™适用于杂质项目,参考多项行业标准暂无。可以检测药物原料等样品。可应用于中药/天然产物行业领域。 药物杂质是指用于合成药物有效成分(API
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iCAP 7400赛默飞MPT iCAP 7400 DUO在工业氢氟酸中杂质元素的分析
赛默飞MPTiCAP 7400可用于测定工业氢氟酸,适用于工业氢氟酸中杂质元素项目。并且参考多项行业标准。可应用于其他化工行业领域。 本文采用赛默飞世尔iCAP 7400DUO ICP-OES分析了
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赛默飞VQ-ANALYTICAL-PUR Vanquish™ 分析纯化液相色谱系统 分离杂质
仪器方法向导(包括分馏模拟窗口),可轻松控制并提高生产效率通常用于 分离杂质或纯化活性物质,如抗体、蛋白质、蛋白质片段、寡核苷酸、mRNA 试剂、传统药物和天然产物。 Explore our full
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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: CL2GAS000001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞H2PGA0202011 用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: H2PGA0202011旨在极大限度地提高生产率和运行时间加热样品隔板确保样品完全转移双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的
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沃特世Waters ACQUITY UPC2 超高效合相色谱液相色谱仪 使用UPC2 /MS进行杂质分析
沃特世液相色谱仪ACQUITY UPC²参考多项行业标准。完成药物的检测。可以用在其他制药/化妆品行业领域中的杂质分析项目。 UPC2: 拓宽了LC和GC分离技术的领域 超高效合相色谱
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Waters 三重四极杆液质联用仪沃特世Xevo TQD 利用Xevo TQD定量测定基因毒性杂质
沃特世Waters 三重四极杆液质联用仪Xevo TQD参考多项行业标准暂无。完成基因毒性杂质的检测。可以用在多个行业领域中的利用Xevo TQD定量测定基因毒性杂质项目。 简介 您不
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