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(原FEI) 赛默飞Verios XHR SEM 金属行业微观分析解决方案
结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供最低的每样本成像和测量成本。Verios 的材料科学应用对材料科学家来说,Verios 可以将亚纳米
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(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本
仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供最低的每样本成像和测量成本。Verios 的材料科学应用对材料科学家来说
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透射电镜(原FEI) Verios XHR SEM 应用于地矿/有色金属
使用传统 SEM 仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供最低的每样本成像和测量成本。Verios 的材料科学应用对材料科学
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(原FEI) Verios XHR SEM透射电镜 电子显微镜产品目录
电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM 仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供最低的每样本成像和测量成本。Verios 的
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Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本
结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供最低的每样本成像和测量成本。Verios 的材料科学应用对材料科学家来说,Verios 可以将亚纳米
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PPSQ-51A/53A新款蛋白测序仪
新PPSQ-51A / 53A蛋白质测序仪采用岛津SPD-M30A光电二极管阵列检测器,配有新型毛细管流通池,灵敏度是原型号标准检测池的10倍,能进行较长序列的蛋白质研究。
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透射电镜赛默飞(原FEI) 应用于其它环境/能源
工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM 仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供最低的每样本成像和测量
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Verios XHR SEM透射电镜(原FEI) 应用于其他化工
,能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM 仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供最低的
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析
分辨率和材料对比度,能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM 仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的
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透射电镜(原FEI) 赛默飞 其他资料
对比度,能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM 仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能,能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供
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