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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
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涂层织物耐曲揉试验机
● 符合: ISO 8096,BS 3424● 重量: 60Kg● 尺寸: (L)1040 x (W)520 x (H) 250mm 本产品用于模拟涂层面料在使用中经受褶皱的情况。● 用于模拟
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电线电缆曲挠试验机
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薄膜应力和硅片翘曲检测仪
基于Optilever激光扫描技术。 使用应力控制,避免薄膜分层,形成凹凸状。 光学设计减少图形衬底对激光的干涉。 在TSV, 半导体以及LED工艺上控制基底弯度。 在平板显示行业,控制玻璃的平整度
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数字图像相关(DIC)翘曲、CTE测量
技术参数:测量维度:二维、三维测量区域:20mm×20mm—250mm×250mm测量精度:位移(1μm),应变(0.005%—100%)加热装置:-40℃—300℃,加热速度50℃/min
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MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统
MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统是一款用于半导体厂务及FAB产线中电子级湿化学品金属杂质含量的在线监测系统,提供电子级湿化学品“采样-传输-稀释-标曲-内标
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石油产品机械杂质测定仪
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PIXARGUS在线表面杂质缺陷检测系统
里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测在线表面杂质缺陷检测系统里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测专业汽车产品
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全自动牛奶杂质分析仪
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