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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
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iCAP 7200赛默飞ICP-AES 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7200适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目,参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可以检测六氟磷酸锂
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iCAP Q ICP-MS赛默飞 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-MSiCAP Q ICP-MS可以用在其他化工行业领域,用来检测六氟磷酸锂,可完成测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。符合多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008
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iCAP 7600赛默飞ICP-AES 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-AES iCAP 7600可以用在其他化工行业领域,用来检测六氟磷酸锂,可完成测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。符合多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。 随着
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
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