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MiniLab3000 移液工作站 全自动液体处理平台 可检测锂辉石/锂云母/透锂长石
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ICP-AESUltima Expert 堀场HORIBA 铜基体中几种元素的分析
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安捷伦CrossLab 多厂商法规认证服务 确认文档的优势
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ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪ICP-MSLabMS 3000 可检测锂辉石/锂云母/透锂长石
莱伯泰科ICP-MSLabMS 3000可以用在电子/半导体行业领域,用来检测石墨、锂辉石/锂云母/透锂长石,可完成锂电池项目。符合多项行业标准。 强劲:集成型超高基质进样系统,支持在线氩气稀释和
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单四极杆GCMSISQ 7000赛默飞 适用于杂质元素
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iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪ICP-AES赛默飞 应用于电子/半导体
赛默飞ICP-AESiCAP 7200可用于测定六氟磷酸锂,适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。并且参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可应用于电子/半导体行业领域
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iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪赛默飞iCAP 7200 应用于电子/半导体
赛默飞ICP-AESiCAP 7200适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目,参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可以检测六氟磷酸锂等样品。可应用于电子/半导体行业领域
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iCAP 7200赛默飞ICP-AES 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7200适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目,参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可以检测六氟磷酸锂
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iCAP 7200赛默飞iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪 可检测六氟磷酸锂
赛默飞ICP-AESiCAP 7200适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目,参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可以检测六氟磷酸锂等样品。可应用于电子/半导体行业领域
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ICP-AES赛默飞iCAP 7200 应用于电子/半导体
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