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土壤墒情监测系统价格
土壤墒情监测系统价格1⊙技术参数★ 主控制器技术参数·数据存储空间:≥100000条·记录间隔:1分-24小时可调·数据传输:无线传输·工作环境:-30℃~80℃·供电方式:220v市电
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薄膜应力和硅片翘曲检测仪
基于Optilever激光扫描技术。 使用应力控制,避免薄膜分层,形成凹凸状。 光学设计减少图形衬底对激光的干涉。 在TSV, 半导体以及LED工艺上控制基底弯度。 在平板显示行业,控制玻璃的平整度
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数字图像相关(DIC)翘曲、CTE测量
系统是丹迪公司研发生产的一款专门用于测量材料在冷却或加热状态下的热膨胀系数、翘曲和位移、应变等的仪器,具有精度高,体积小等优点,且有一个温度控制平台。主要特点:精度高、测量范围广、无接触、方便使用
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台式模拟驱动器
流量:在50转/分时为4.60毫升,在3600转/分时为331.2毫升 zei大压力:300磅/平方英寸 zei大差压:75磅/平方英寸 zei高温度:104华氏度(40摄氏度)(系统) 温度
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泊菲莱Microsolar300氙灯光源
产品型号Microsolar300Microsolar300UV输出光不稳定度±1%/8H电源瞬间稳定性±0.3%灯泡总光功率50W光谱范围300-2500nm200-2500nm灯泡紫外区总
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MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统
MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统是一款用于半导体厂务及FAB产线中电子级湿化学品金属杂质含量的在线监测系统,提供电子级湿化学品“采样-传输-稀释-标曲-内标
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台式数字驱动器
流量:在60转/分时为5.52毫升;在3600转/分时为 331.2毫升。 zei大压力:300磅/平方英寸 zei大差压:75磅/平方英寸 zei高温度:104华氏度(40摄氏度)(系统
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石油产品机械杂质测定仪
u 油样控温范围:室温~150℃u 吸滤漏斗金属浴保温:室温-100℃u 控温精度:0.1℃u 压力平衡:30 Kpa~100 Kpa;u 压力控制:程序控制压力平衡;u 吸滤膜滤片直径
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PIXARGUS在线表面杂质缺陷检测系统
里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测在线表面杂质缺陷检测系统里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测专业汽车产品
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全自动牛奶杂质分析仪
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