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阿贝折射仪
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AA-DD扫描自相关仪
一、扫描自相关仪AA-DD AA-DD扫描自相关仪规格参数 技术参数: 型号AA-20DDAA-10DD-12PSAA-10DD-30PS波长范围*450-3200nm各探测器
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Avesta EFOA-SH光纤激光器
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Avesta EFOA-SH-UB型 多波长激光器
光输出光纤输出1560nm,FC / APC(~1 mW)高频同步输出:SMA连接器模式锁定状态:SMA连接器(3.5 / 0 V)和LED输出稳定性(24 hours) @780 nm
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DR-A1-plus 数显阿贝折光仪
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
: Ethernet 10/100 M Base T,USB,RS 485,RS,232,数字&模拟1/0,Fieldbus通信协议: MODBUS RTU,MODBUS
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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W-20韦氏硬度计
本韦氏硬度计是检验铝合金型材力学性能的首选仪器,符合中国有色标准YS/T420-2004和美国标准ASTM B647-84(2000)。 本韦氏硬度计是检验铝合金
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