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AA-DD扫描自相关仪
一、扫描自相关仪AA-DD AA-DD扫描自相关仪规格参数 技术参数: 型号AA-20DDAA-10DD-12PSAA-10DD-30PS波长范围*450-3200nm各探测器
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Avesta EFOA-SH光纤激光器
EFOA-SHEFOA-SH-HPPulse Width (FWHM) at 780 nm260 mW at 1560 nm>200 mW at 780 nm>440 mW at 1560
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Avesta EFOA-SH-UB型 多波长激光器
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ChemFIA CAS-400 自动进样器
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
1、 执行国家标准GB/T511-2010。广泛适用于石油、化工、冶金、电力、交通、商检及科研等部门。2、 核心主机采用TI 公司AM3354处理器,Cortex-A8内核,1GHz主频
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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ARTUS 8 全谱直读光谱仪/台式金属分析仪
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Quatuor II 全自动除杂清理分级机
) - 自动称重并计算杂质等各项百分比特点可靠: 无人为影响简便快速: 每份样品检测只需1分20秒,工作结束后可显示检测 结果进行打印或将结果传输到电脑上用途广: 选用于所有籽粒(小麦、大麦、油菜籽
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