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阿泰可CH/SU160C高低温试验箱
同行业中处于领先地位,超宽的湿度控制范围目前国内没用任何厂商能够到达。经过特殊控制方式更能够满足0度45%的湿度控制。 4、产品质量可靠性优势;●设计的可靠性;重庆阿泰可试验设备有限公司具有强大的设计
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阿泰可温度冲击试验箱CST200/2T
温度冲击试验箱 ATEC(阿泰可)能够提供有效容积50L至1000L的“CST”系列的标准温度冲击试验箱,也可以根据客户需求定制更大容积的冲击试验箱。该系列根据客户场地和不同的试验需求分为水平
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AA-DD扫描自相关仪
一、扫描自相关仪AA-DD AA-DD扫描自相关仪规格参数 技术参数: 型号AA-20DDAA-10DD-12PSAA-10DD-30PS波长范围*450-3200nm各探测器
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Avesta EFOA-SH光纤激光器
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Avesta EFOA-SH-UB型 多波长激光器
光输出光纤输出1560nm,FC / APC(~1 mW)高频同步输出:SMA连接器模式锁定状态:SMA连接器(3.5 / 0 V)和LED输出稳定性(24 hours) @780 nm
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便携式拉曼光谱仪
、卡托普利、盐酸可乐定、盐酸哌唑嗪、硝基地平、阿替洛尔等 采用最先进的识别技术,与市面上分光、胶体金产品相比,拉曼独具的分子指纹识别能力,不易造成误判。 PERS-D便携式拉曼光谱仪v 产品简介
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
: Ethernet 10/100 M Base T,USB,RS 485,RS,232,数字&模拟1/0,Fieldbus通信协议: MODBUS RTU,MODBUS
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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