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Avesta EFOA-SH光纤激光器
EFOA-SHEFOA-SH-HPPulse Width (FWHM) at 780 nm260 mW at 1560 nm>200 mW at 780 nm>440 mW at 1560
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Avesta EFOA-SH-UB型 多波长激光器
EFOA-SH-UB型 多波长激光器技术参数:型号EFOA-SH-UB1560 nm 输出中心波长(固定):1560±10 nm脉冲宽度: 150 mW脉冲重复频率(固定):70±5 MHz偏振
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PERS-F800便携式拉曼光谱仪
、诱惑红、安赛蜜、甜蜜素、山梨酸等保健品西布曲明、酚酞、西地那非、卡托普利、盐酸可乐定、盐酸哌唑嗪、硝基地平、阿替洛尔等掺假掺假食用油、果汁掺假等 PERS-F800便携式拉曼光谱仪 便携式
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DR-M2/1550(A) 多波长阿贝折射仪
折射指数 : 0.0001阿贝数 : 0.1 测量准确度 折射指数 : ±0.0002( 附有测试片589nm ) 波长范围
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ATAGO DR-M2多波长阿贝折射仪
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ChemFIA CAS-400 自动进样器
产品简介CAS系列自动进样器除了作为凯菲亚的流动注射分析仪的进样系统使用外,还能与多种型号仪器AA/ICP/ICP-MS等)配套使用,为大批量样品分析提供解决方案。结构设计合理,易于维护维修
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
荧光灯 电源功率:32W主机: 工控机Intel®Core™ 2 Duo,采用最新的主流硬件配置软件: Windows XP 操作系统,定制图像处理软件系统接口
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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