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CMI243镀层测厚仪
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CMI-233镀层测厚仪
液晶显示屏 ●键区:密封膜。基本-9键;增强-16键 ●扫描特征:在指定扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值) ●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国 CMI 200型镀层测厚仪是高科技电子技术
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Thick 800A镀层测厚仪
技术指标 型号:Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 一次可同时分析zei多24个元素,五层镀层。 分析检出限可达2ppm,zei薄可测试0.005μm
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镀层测厚仪Thick880
% ~ 70% 电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ 超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面 产品简介: X射线镀层测厚仪
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CMI900|镀层测厚仪
,CMI700涂层镀层测厚仪,CMI500铜厚测厚仪,CMI165等涂镀层测厚仪,元素分析仪,无损检测测厚仪.广东正业中国大陆的牛津仪器一级代理,专业销售维修:X-STRATA960,980等各种型号
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台式镀层测厚仪 - CMI730
适用于金属、油漆、粉末及涂料等行业的台式镀层测厚仪 - CMI730 日立分析仪器CMI730是一款简单易用的台式镀层测厚仪,它可适用于金属、油漆、粉末及涂料等行业,它集快速精确、价格合理
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MProbe Vis薄膜测厚仪
性能参数:技术参数: 大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物
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MProbe RT薄膜测厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS
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MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
测量范围: 1 nm -50um 波长范围: 200 nm -1000 nmMProbe UVVisSR薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料
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MProbe NIR薄膜测厚仪
和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量
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