-
Park原子力显微镜AFM及扫描探针帕克 NX12 原子力显微镜 应用于机械设备
Park原子力显微镜帕克 NX12 原子力显微镜Park NX12参考多项行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568
-
AFM及扫描探针帕克 NX12 原子力显微镜Park原子力显微镜 应用于高分子材料
Park原子力显微镜帕克 NX12 原子力显微镜Park NX12用于测定.,符合行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568
-
Park NX12Park原子力显微镜AFM及扫描探针 应用于生物质材料
Park原子力显微镜帕克 NX12 原子力显微镜Park NX12用于测定.,符合行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-WaferPark原子力显微镜 适用于表面测量
Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-Wafer参考多项行业标准。完成半导体的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的表面测量项目。 利用原子力显微镜进行的自动缺陷
-
Park NX-WaferPark原子力显微镜AFM及扫描探针 应用于电子/半导体
Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-Wafer用于测定半导体,符合行业标准。适用表面测量项目。 利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检通过纳米级的分辨率在三
-
Park NX-WaferPark原子力显微镜AFM及扫描探针 应用于纳米材料
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Wafer可用于测定半导体,适用于表面测量项目。并且参考多项行业标准。可应用于纳米材料行业领域。 利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检通过纳米级的
-
AFM及扫描探针Park FX40Park原子力显微镜 可检测材料
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park FX40用于测定材料,符合行业标准。适用高精度纳米测量项目。 无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描 样品摄像头样品台上最多可以同时放置四个不同量级的
-
帕克 FX40原子力显微镜Park FX40AFM及扫描探针 适用于高精度纳米测量
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park FX40参考多项行业标准。完成材料的检测。可以用在纳米材料行业领域中的高精度纳米测量项目。 无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描 Park FX40
-
Park FX40AFM及扫描探针帕克 FX40原子力显微镜 新型原子力显微镜:FX40,自动原子力显微镜
Park原子力显微镜帕克 FX40原子力显微镜Park FX40适用于表面测量项目,参考多项行业标准。可以检测半氟化烷烃(F14H20),聚四氟乙烯(Teflon),苯乙烯-丁二烯-苯乙烯共聚物
-
帕克 FX40原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 可检测聚四氟乙烯(Teflon)
Park原子力显微镜帕克 FX40原子力显微镜Park FX40参考多项行业标准。完成半氟化烷烃(F14H20),聚四氟乙烯(Teflon),苯乙烯-丁二烯-苯乙烯共聚物,氮化硼上的石墨烯的检测
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net