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PHL膜厚测量椭偏仪 ME-210(-T)
物台--标准φ8inch、选配φ12inch 以往的椭偏仪是单点测试,因此要取得整面膜厚均匀性数据是需要N个小时的工作,而且最小的测量分辨率就是激光光斑大小,也就是说,无法取得微小区域的膜厚分布数据
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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
技术参数:· 光谱范围:450-1000nm· 多种微光斑自动选择· zl光斑可视技术,可观测任何样品表面· CCD探测器· 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向· 自动调节; Z
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波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 样品池 光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚层厚度、表面为粗糙度等)和光学参数(如,折射率n
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快速摄谱式 固定入射角光谱椭偏仪
ES05是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的固定入射角光谱椭偏仪,仪器波长范围370-1000nm。ES05固定入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如
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快速摄谱式 多入射角光谱椭偏仪
/Si氮化硅纳米薄膜标片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 样品池型号更新说明:2012-09-14:ES03取代原型号ES01/D。 光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度
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波长扫描式 多入射角光谱椭偏仪
/Si二氧化硅纳米薄膜标片 NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 样品池 光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,膜层厚度、表面微粗糙度等
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PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
/4kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C功率AC100-240V(50/60Hz)软件SE-View凑型桌面式椭偏仪 SE-102型号SE-102重复性厚度0.1nm,折射率
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AlnairLabs保偏锁模飞秒激光器PFL-200
保偏锁模飞秒激光器PFL-200 PFL-200是一种紧凑的保偏飞秒脉冲激光器,结合了专有的碳纳米管锁模器。该激光器具有高度稳定的全偏振保持结构,提供转换受限的孤子脉冲,典型的脉冲宽度为
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极致型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏仪 EMPro-PV是针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏
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EM12 精致型多入射角激光椭偏仪
EM12是采用先进的测量技术,针对中端精度需求的研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米
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