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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)ICP-MSELEMENT2/XR 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-MSELEMENT2/XR参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。完成六氟磷酸锂的检测。可以用在其他化工行业领域中的测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。 随着
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ICP-AES ICP-OES等离子体光谱仪赛默飞 iCAP 6000 Series ICP-OES法测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-AES iCAP 7600参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。完成六氟磷酸锂的检测。可以用在其他化工行业领域中的测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。 随着
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iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪ICP-AESiCAP 7200 iCAP 6000 Series ICP-OES法测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7200可用于测定六氟磷酸锂,适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。并且参考多项行业标准产品标准HG/T
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iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪ICP-AESiCAP 7200 iCAP 6000 Series ICP-OES法测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-AESiCAP 7200可用于测定六氟磷酸锂,适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。并且参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可应用于电子/半导体行业领域
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陶瓷热板10\" CIMAREC HOT PLATE 230V 10X10
10X10">
Cimarec 系列数字型搅拌器、加热板和加热搅拌器提供精确的控制性能、杰出的安全性和卓越的温度控制功能。三种大小不同的产品型号可以覆盖微量化学研究和大量样品的处理 ● 加热面板平整光滑
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陶瓷磁力搅拌10\" CIMAREC STIRRER 230V 10X10
10X10">
Cimarec 系列数字型搅拌器、加热板和加热搅拌器提供精确的控制性能、杰出的安全性和卓越的温度控制功能。三种大小不同的产品型号可以覆盖微量化学研究和大量样品的处理 ● 加热面板平整光滑
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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