-
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 自动像差校正软件JEOL COSMO™
-
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 自动像差校正软件JEOL COSMO™
-
JEM-1400 Plus 120kV高衬度透射电子显微镜
-
日本电子JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜 世界领先的STEM-HAADF像分辨率
-
日本电子JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜 束斑更小、电流密度更大的电子束
-
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 新ABF(Annular Bright Field)检测器系统
-
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 对含有轻元素样品的原子级结构的观察
-
日本电子冷场发射12极子球差校正透射电镜JEM-ARM300F2
2020年02月14日,日本电子(JEOLLtd.)总裁兼首席运营官IzumiOi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRANDARM™2)。■ 主要特点超高空间分辨率与能
-
JED-2300T 能谱仪
、加速电压等参数,进行数据管理。硅漂移检测器(以下简称SDD)的检测面积有30mm2、60mm2和100mm2三种。检测面积越大,检测灵敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY
-
赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net