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AFM及扫描探针AsylumResearchCypher S 可检测Materials
collagen的成像 Bacteriorhodopsin胞外表面的闭环轻敲模式成像,扫描范围5nm Cypher系统功能模式 接触模式:利用探针弯曲反馈进行成像。可以获得高度,反馈和横向力信号
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牛津仪器Jupiter XRAFM及扫描探针 可检测and
牛津仪器AFM及扫描探针Jupiter XR用于测定Microstructure and Mechanical Properties,符合行业标准Oxford Instruments。适用
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AsylumResearch Cypher ES Polymer Edition AFM及扫描探针
的三大技术(用于纳米机械表征),以及高温聚合物加热器。设备特点包括:能够轻松实现原子力级的高分辨成像、快速扫描(以秒为单位,而非分钟级别)、每一步操作都简单便捷且高效率、占用实验室空间小、提高研发能力
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AsylumResearchAFM及扫描探针Cypher S 可检测Semiconductors
模块拓宽了扫描模式和应用的选择。MultiLuxTM光源模块提供多种不同光斑尺寸的二极管激光器和低相干的SLD光源以支持不同尺寸的探针。不同模块的更换只需要一分钟。 高分辨率的上视光路仅受限于光学衍射
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SPM-9700HT用纳米物理检测软件AFM及扫描探针SPM-9700HT软件 SPM-9700扫描探针显微镜
点击查看下载SPM-9700HT用纳米物理检测软件AFM及扫描探针SPM-9700HT软件 SPM-9700扫描探针显微镜相关资料,进一步了解产品。 纳米领域表面/界面物理性质可视化处理扫描探针
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Cypher VRSAFM及扫描探针牛津仪器 可检测Polymer
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牛津仪器AFM及扫描探针Cypher VRS 失效分析
多功能,易操作等优点,使科研人员终于能够以视频级的速度,来研究纳米级的动态过程。高分辨率的视频级成像,扫描速度可达每秒625行易于使用,—即使在帧速达每秒10帧的情况下提供多种模式和配件——拥有
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牛津仪器Jupiter XRAFM及扫描探针 可检测Polymer
牛津仪器AFM及扫描探针Jupiter XR可以用在纳米材料行业领域,用来检测Polymer Materials,可完成Polymer Materials项目。符合多项行业标准Oxford
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牛津仪器Cypher ESAsylumResearchAFM及扫描探针 可检测Material
AsylumResearchAFM及扫描探针牛津仪器Cypher ES用于测定Nano Material,符合行业标准Oxford Instruments。适用Nano Material项目。 纳米
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Jupiter XRAFM及扫描探针牛津仪器 可检测Semiconductors
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