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SPECS NAP-XPS近常压X射线光电子能谱仪
近常压X射线光电子能谱仪(NAP-XPS)是一种反应条件下的原位表面分析技术,可以在较高温度下、一定压力(0.3 mbar左右)气体环境中对材料的表面进行研究。它的应用使得在近常压下对固-气界面进行
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天津能谱全自动萃取器
3、技术参数:l 样品取样量:0~1000ml;l 溶剂取样量:25~100ml;l 同时萃取样品数:三个水样;l 萃取效率:95%以上;l 重复性:RSD﹤5%;l 萃取时间:3~10min
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八路alpha能谱仪
技术参数:真空计:范围10mTorr到20Torr数字化MCA: 4096道增益稳定性: ≤150ppm/ºC脉冲产生器;范围0到10Mev,稳定性
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SystemSix X-射线能谱仪
详细参数...... SYSTEM SIX 系统对所有能谱仪分析功能均在一个工作界面下完成,所有任务仅靠鼠标一点自动完成。实现能谱仪分析工作的智能化。 SYSTEM SIX
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ORTEC高纯锗γ能谱仪
技术参数 :最大数据通过率大于100kcps(DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps)增益粗调:1,2,4,8,16,或32细调:0.45至1.00成形时间常数
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OXFORD Ultim Extreme EDS 能谱仪
分辨率和低能量性能。 Extreme系列将极端电子和无窗结构与优化的几何结构和传感器设计相结合,可提供比传统大面积SDD高15倍的灵敏度。 在 SEM 中, EDS 具有极致的空间分辨率和
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EDAX X射线能谱仪(EDS)
™智能软件,为用户提供了zei先进的TEM能谱仪系统。 EDAX, X射线能谱仪,能量仪, EDS,扫描电镜,扫描电子显微镜,SEM,透射电镜, 透射电子显微镜, TEM, TEAM, SDD, 硅
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激光闪光光解光谱仪FlashSENS
■ 电子能级跃迁、振动弛豫 ■ 电荷(空穴)转移(注入)时间 ■ 多激子效应(MEG)和俄歇复合 ■ 激发态吸收 ■ 染料敏化太阳能电池电子转移 ■ 半导体材料光催化电子转移 ■ 非线性光吸收
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赛默飞K-Alpha+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统
信息, 从而获得样品表面高灵敏度化学态图像,如浓度空间分布图、薄膜厚度图。 Thermo Scientific™ K-Alpha™ X光光电子能谱仪于2006年问世,将整合式自动化的表面
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电子万能试验机
、剪切、撕裂、剥离等力学性能测试。适用于对金属、非金属及复合材料进行拉伸、压缩、弯曲、剪切、撕裂、剥离等力学性能测试。能自动检测出材料的zei大力值、屈服力值、断裂力值及zei大伸长量、屈服伸长量
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