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变化,厚度在几十微米的膜。原子热运动对衍射强度影响。在一定温度下当掠射角θ越大时,由于热振动使衍强度的降低也越大。在多晶衍射时,由于试样本身对X射线的吸收作用会造成衍射线强度的衰减。几十个微米相当厚了另外峰强也和测试时X射线的光斑大小、强度
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X射线衍射技术(X-raydiffraction,XRD)。是利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射仪分为
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X射线的波长约为0.01~100 Å(如图1所示),而XRD上常用的光源主要由Ag、Mo、Cu、Co、Fe、Cr等几种,其波长介于0.5~2.5 Å之间(如表1所示),只占X射线波长范围的极小一部分。▲图1表1实际使用中,由于用途的不同
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含义不同: 电子衍射与x射线衍射一样,遵从衍射产生的必然条件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等)和系统消光规律。形成不同: 多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺,往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。当电子
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在X射线衍射谱中,低角度的衍射峰大都是晶面100,010,001,110,101,011,200,210,300,220,310,...,400,...等产生的,这些晶面的一级衍射光一般都比较强,并且这些晶面参与衍射的频度高-即重复系数大
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一、XRD有什么用途?
XRD(X 射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的
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XRD图谱峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多,两峰的高度比“A/C
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能谱主要是用来做材料微小区域的成分组成和占比,所采用的是使用高速电子轰击材料,使内壳电子产生跃迁,外层电子填充空位时释放特征X射线,然后通过分析得出元素及其含量。能谱是基于扫描电镜的,其作用较单一。XRD是X射线穿过晶体是发生衍射,然后测量衍射线强度来确定晶体结构。XRD可以进行物相分析,取向分析,晶粒大小,相结构,相变等更微观的分析。
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电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪,是用于物相分析的检测设备。扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM,图2-17、18、19)于20世纪60年 代问世,用来观察标本的表面结构。其
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XRD结晶度是根据部分结晶聚合物的X射线衍射强度峰总面积中晶区部分贡献的百分数计算的结晶度。 分析方法: 已知波长的X射线来测量θ角du,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析zhi;dao另一个是应用已知d的晶体来测量θ角