-
徕卡Leica EM TIC 3X 德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 可检测半导体芯片
徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 可用于测定半导体芯片,适用于截面结构项目。并且参考多项行业标准。可应用于纳米材料行业领域。 1.独特的三离子束系统,可获得
-
徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 应用于电子/半导体
徕卡切割机Leica EM TIC 3X 可用于测定半导体芯片,适用于截面结构项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的截面处理质量,并可高效
-
Leica EM TIC 3X 徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 应用于纳米材料
徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 可用于测定半导体芯片,适用于截面结构项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 1.独特的三离子束系统
-
Leica EM TIC 3X 徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 适用于截面结构
徕卡切割机Leica EM TIC 3X 可以用在纳米材料行业领域,用来检测半导体芯片,可完成截面结构项目。符合多项行业标准。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的
-
切割机Leica EM TIC 3X 德国离子研磨仪 EM TIC 3X 可检测电镜制样产品
-
德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 切割机 应用于煤炭
徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 适用于截面结构项目,参考多项行业标准。可以检测太阳能电池等样品。可应用于纳米材料行业领域。 方案摘要 可复制的结果
-
L-Dens7400/7500 seriesL-Dens7400/7500系列在线密度传感器其它在线仪器仪表 安东帕 酸洗液监测
-
其它相关仪表AMBI-GASS™
- 常温气体取样达99%R.H. - 0.1微米凝聚/微粒过滤器 - 接受气流速达 25 LPM - 产出露点为-25 ℃的样气
-
德国徕卡离子研磨仪 EM TIC 3X
产品简介:独特宽场三离子束,以垂直于样品侧面纵向轰击样品,实现高质量无应力“切割”截面,几乎适用于各种材料。还可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍:可复制的结果Leica EM TIC 3X 三
-
德国徕卡 离子研磨仪 EM TIC 3X
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net