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LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)
LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术,通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变,建立样品相应光学模型,计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。
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UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 相位调制型椭圆偏振光谱仪 - 中文
点击查看下载UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 相位调制型椭圆偏振光谱仪 - 中文相关资料,进一步了解产品。 UVISEL光谱型相调制椭圆偏振仪(SPME)是一款独一无二的仪器
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光谱成像椭偏仪
传统的椭偏仪作为一个强大的薄膜表征技术已经有超过100年的历史。而应用成像椭偏仪可以将被研究对象的尺寸下调到微米范围,此技术可以应用于微结构样品测试。例如,当今信息存储设备(如
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Bruker椭偏仪 FilmTek CD
Bruker FilmTek CD椭偏仪——多模态临界尺寸测量和先进薄膜计量学 FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们的领先解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD
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堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可检测铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3,可完成厚度,光学常数,各向异性
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SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台
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牛津仪器ALD OpAL原子层沉积系统
(ALD)设备,带有等离子选项适用于小尺寸至200mm的晶圆片蒸汽吸取或鼓泡四种液体或固体前驱体实时检测选项,包括与ALD控制软件相联的光谱椭偏仪ALD产品家族涵盖的系列设备可以满足学术界、企业研发和
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 可检测溶液
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定溶液,适用于疏水改性多聚糖在气水界面的聚集项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他生命科学行业领域。 技术参数
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堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 应用于涂料
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定玻璃和预蒸镀基底,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他化工行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振
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堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可检测PDP等离子体显示屏
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测PDP等离子体显示屏,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 技术参数: * 光谱范围
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