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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列
博曼P系列产品概述:P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列
SDD探测器。 博曼B系列可满足以下类型用户的需求:- 样品测试量相对较小- 样品仅需测量一个位置- 大型线路板镀层的抽检- 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升- 符合IPC-4552A 博曼B
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 W系列
博曼W系列产品概述:W系列采用多毛细管光学机构,可将X射线聚焦到7.5μmFWHM,是目前世界上使用XRF技术进行镀层厚度分析的最小光斑尺寸。150倍放大相机用于观察样品上的细微特征;同时配有低倍数
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XRF台式镀层测厚仪
仪器简介: CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体
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XRF镀层测厚仪FT210
智能镀层分析,数据互联,效率起飞FT200系列台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪,其可以
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浪声 晓INSIGHT X射线荧光测厚仪 镀层测厚仪
晓INSIGHT镀层测厚仪,高性能探测器,测量低至1纳米,可测多达5层,可检测微小件、不均匀件等,一站式解决方案,免费测样,终身维护,品质无忧!
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浪声晓INSIGHT 台式镀层测厚仪镀层分析仪 金属镀层快速测厚
专为微光斑和超薄镀层分析而设计,可选配高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器,有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。
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浪声 台式镀层分析仪 镀层测厚仪 ScopeX COAT2
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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪
仪器简介: 运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量。应用于: -有害元素痕量分析 -焊料合金成分分析和镀层厚度测量 -电子产品中金和钯镀层的
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