-
38型海拔仪
【简单介绍】测 程:Z大4000M 产品简介:测 程:zui大4000M高度zui小刻度:10M,估读5米测量精度:20M 气压测程:970至1050毫巴直径:65MM 重量:150克产地
-
AA-DD扫描自相关仪
波长范围*(可换光电探测器/分束器对)V:450-700nmR1:700-1300nm R2:1300-2000nm R3:1950-3200nm输入脉冲宽度范围20 fs - 6 ps10 fs
-
Avesta EFOA-SH光纤激光器
EFOA-SHEFOA-SH-HPPulse Width (FWHM) at 780 nm260 mW at 1560 nm>200 mW at 780 nm>440 mW at 1560
-
Avesta EFOA-SH-UB型 多波长激光器
EFOA-SH-UB型 多波长激光器技术参数:型号EFOA-SH-UB1560 nm 输出中心波长(固定):1560±10 nm脉冲宽度: 150 mW脉冲重复频率(固定):70±5 MHz偏振
-
NAR-3T固体玻璃 高精度阿贝折射仪
,50/60Hz功率5VA尺寸和重量12x31x34cm,9.0kg(主机)10x11x7cm,0.5kg(温度显示部件) NAR-3T高精度阿贝折光仪 【产品介绍】阿贝折射仪紧跟用户使用需求
-
ChemFIA CAS-400 自动进样器
产品简介CAS系列自动进样器除了作为凯菲亚的流动注射分析仪的进样系统使用外,还能与多种型号仪器AA/ICP/ICP-MS等)配套使用,为大批量样品分析提供解决方案。结构设计合理,易于维护维修
-
机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
-
机械杂质测定仪
-
颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
-
颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net