-
碎屑、杂质分析仪MK2
产地类别: 国产纤维类测试仪器本产品可分为两种类型。碎屑、杂质分析仪MK2(棉型),可检测100克以内棉纤维样品中碎屑、杂质及微尘含量。也可用于检测合成纤维中非纤维组分的含量,或对纤维进行开松、除
-
肿瘤个体化化疗用药基因检测
敏感性甲氨蝶呤ABCB1毒副作用MTHFR毒副作用阿那曲唑CYP19A1敏感性来曲唑CYP19A1敏感性他莫昔芬CYP2D6敏感性产品优势准确性高:单碱基检测准确性高达99.99%针对性强:针对中国人
-
AA-DD扫描自相关仪
波长范围*(可换光电探测器/分束器对)V:450-700nmR1:700-1300nm R2:1300-2000nm R3:1950-3200nm输入脉冲宽度范围20 fs - 6 ps10 fs
-
Avesta EFOA-SH光纤激光器
-
Avesta EFOA-SH-UB型 多波长激光器
EFOA-SH-UB型 多波长激光器技术参数:型号EFOA-SH-UB1560 nm 输出中心波长(固定):1560±10 nm脉冲宽度: 150 mW脉冲重复频率(固定):70±5 MHz
-
2W阿贝折射仪
-
机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
-
机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
-
颗粒、杂质扫描分析系统
荧光灯 电源功率:32W主机: 工控机Intel®Core™ 2 Duo,采用最新的主流硬件配置软件: Windows XP 操作系统,定制图像处理软件系统接口
-
颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net