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安捷伦5110ICP-AES 基因毒性杂质检测 — 安捷伦完整
致癌性杂质研究方法推荐》,ICH 《M7 基因毒性杂质指南》。适用基因毒性杂质项目。 - 独特的智能光谱组合 (DSC) 技术可实现同步水平和垂直信号测量,消耗更少气体即可运行zei快的
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MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统
MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统是一款用于半导体厂务及FAB产线中电子级湿化学品金属杂质含量的在线监测系统,提供电子级湿化学品“采样-传输-稀释-标曲-内标-进样
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苏沃雷生杂质B CAS:2941-79-9 乐研Leyan.com
乐研Leyan.com:致力于为医药研发提供高品质化学试剂服务。苏沃雷生杂质BCAS No. :2941-79-9产品编号:1060100英文名称:4,4'-Dimethyl[1,1
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CrossLab 多厂商法规认证服务安捷伦 其他资料
点击查看下载CrossLab 多厂商法规认证服务安捷伦 其他资料相关资料,进一步了解产品。 安捷伦法规认证服务采用安捷伦自动化法规认证引擎 (ACE) 软件来满足严格的监管要求。安捷伦工程师通过
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奥豪斯0.001g EP专业型天平
防风罩和内置绝缘核心设计,优化防风性能,显著提高称量的稳定性 包括了称量范围从210g-610g,zei小分度值为0.001g多种型号的专业型天平。技术参数:量程范围:210g-610g 可读性
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奥豪斯0.01g EP专业型天平
防风罩和内置绝缘核心设计,优化防风性能,显著提高称量的稳定性 包括了称量范围从610g-6100g,zei小分度值为0.01g多种型号的专业型天平。技术参数:量程范围:610g-6100g 可读性
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奥豪斯0.1g EP专业型天平
防风罩和内置绝缘核心设计,优化防风性能,显著提高称量的稳定性 包括了称量范围从4100g-8100g,zei小分度值为0.1g的多种型号专业型天平;还有称量范围从12000g-32000g,可读性为
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门
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