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梅特勒托利多瑞士XP/XS系列微量/超微量天平天平 可检测天平
使用任何类型的称量设备或过程的任何行业内任何组织的管理人员带来益处。 仪器简介: 梅特勒托利多创新的微量和超微量天平XP/XS设立了高效称量、用户友好的操作界面和高质量的新标准。这些微量
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芯硅谷 S4710 不锈钢弹簧
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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中科都菱圆提桶系列液氮罐
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232刮板细度计
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天平梅特勒托利多瑞士XP/XS系列微量/超微量天平 GWP® 节约成本
梅特勒托利多瑞士XP/XS系列微量/超微量天平XP6U/XS3DU/XP6适用于GWP项目,参考多项行业标准梅特勒托利多。可以检测天平,台秤等样品。可应用于多个行业领域。 简介 仪器简介
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瑞士XP/XS系列微量/超微量天平梅特勒托利多天平 可检测台秤
梅特勒托利多瑞士XP/XS系列微量/超微量天平XP6U/XS3DU/XP6可用于测定天平,台秤,适用于GWP项目。并且参考多项行业标准梅特勒托利多。可应用于多个行业领域。 介绍 仪器简介
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不锈钢圆底蒸发皿
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Agilent 全能型分光光度计 (UMS)紫外安捷伦 可检测涂层晶圆
安捷伦紫外Cary 7000用于测定涂层晶圆,符合行业标准。适用反射率,透射率 项目。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。Cary
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