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DAGE XD7600NT Diamond FP X光检测系统
检测系统, X射线实时成像, 工业CT, 3D 独一无二的Nordson DAGE NT免维护、封闭穿透式X光管,具有0.1μm的特征识别和zei高10W的功率,与300万像素耐用型CMOS
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奥龙Aolong μCT
主要技术参数 ●管电压:20kV~90kV ●焦点尺寸:5μm ●密度分辨率:0.3%~0.5% ●扫描方式:锥束扫描 工作原理: 台式CT采用高品质恒压 X射线源、高分辨率非晶硅面阵列探测器
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奥龙平面CT
。 平面CT专业用于检测和分析板状结构器件内部质量与结构情况,适用PCB板,BGA、SMT,集成芯片等器件和加工工艺的质量评定与分析。重构出扫描区三维断层图像,实现对板状器件缺陷的空间定位,以及逆向
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MultiscaleVoxel系列工业CT
CT最大的优势。 450kV紧凑型工业计算机断层(CT)扫描系统,占地面积小,节省空间; 产品特点450kV紧凑型工业计算机断层(CT)扫描系统,占地面积小,节省空间
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EFPscan系列平板CT
失效分析结果的准确性;全方位智能3D成像2)在半导体封装行业,EFPscan100 平板CT可以针对球栅阵列器件BGA浸润不良、内部裂纹、空洞、连锡、少锡等问题,以及复杂精密组装不见中的坏件、错位
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WISDOM型烟气参数连续监测系统
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【IXRF】X射线管fX-SEM\X-Beam
/μA显示、内部互锁阀;键控电源开关、高压警示 本产品是把高性能的微型X射线管(两种可选)安装在SEM上,利用能谱仪探测器来接受信号,从而将XRF整合进SEM+EDS系统中,结合了EDS和XRF两者的
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DAGE XD7600NT Diamond X光检测系统
。所有这些任务都可在标准Nordson DAGE图像向导软件中快速简单地自动完成,而无需任何编程技巧。可选配升级为μCT(3D)检测。 X-ray, DAGE X-ray, DAGE7500
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Nano Indenter G200纳米压痕仪
压痕头兼容,能满足必须考虑动态效应的应用,如应变率和频率。 ProbeMMA™聚合物方法组合与AccuFilm™薄膜方法组合随CSM选项一起提供。 ProbeDMA™聚合物方法组合提供了一种分离负载
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P 系列粉末原子层沉积系统
方法包覆均匀性较差,性能提升有限。ALD 技术可实现高精度及均匀包覆,是理想的包覆手段。Forge Nano 针对粉末类材料比表面积大的特点,采用流化床技术实现粉末材料的流化,从而保证前驱体与粉末实现
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