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TB系列孔径分析仪 比表面积及孔径 同步分析仪 可检测粉体材料
精微高博孔径分析仪TB系列适用于材料分析项目,参考多项行业标准。可以检测粉体材料等样品。可应用于高分子材料行业领域。 “比表面”指固体物质表面积的大小,具体定义是固体单位质量的总表面积,单位是M2
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TB系列精微高博 比表面积及孔径 同步分析仪 应用于地矿/有色金属
精微高博孔径分析仪TB系列可用于测定粉体材料,适用于材料分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 “比表面”指固体物质表面积的大小,具体定义是固体单位质量的总表面积,单位是M2
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孔径分析仪 比表面积及孔径 同步分析仪TB系列 应用于功能材料
精微高博 比表面积及孔径 同步分析仪TB系列可用于测定粉体材料,适用于材料分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于炭黑行业领域。 “比表面”指固体物质表面积的大小,具体定义是固体单位质量的总表
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耶拿 高分辨率ICP-OESICP-AES 适用于 La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y
耶拿 高分辨率ICP-OESPQ9000参考多项行业标准GB/T 18114。完成稀土溶液的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的 La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er
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钪酸铽(TbScO3)晶体基片
产品名称:钪酸铽(TbScO3)晶体基片产品简介:与钙钛矿结构的超导体有很好的晶格匹配,极佳的铁电薄膜衬底材料技术参数: 晶体 结构(A) 熔点oC 密度g/cm3生长方法 DyScO3 正交
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分子荧光HORIBA高灵敏一体式荧光光谱仪-FluoroMax-4 可检测Tb-L 配合物
堀场HORIBAHORIBA高灵敏一体式荧光光谱仪-FluoroMax-4可以用在日用化学品行业领域,用来检测Tb-L 配合物, Eu-L配合物,可完成荧光寿命项目。符合多项行业标准0。 仪器简介
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钪酸铽(TbScO3)晶体基片
产品名称:钪酸铽(TbScO3)晶体基片产品简介:与钙钛矿结构的超导体有很好的晶格匹配,极佳的铁电薄膜衬底材料技术参数: 晶体 结构(A) 熔点oC 密度g/cm3生长方法 DyScO3
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Agilent安捷伦 5190-6144 分流平板 超高惰性 带垫圈
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Agilent安捷伦 5190-6144 分流平板 超高惰性 带垫圈
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NovaSeq X系列测序系统
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