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A4P 自动扫描四探针测试仪
支持JANDEL探测头,插入式更换,操作简单 自动扫描四探针测试仪 技术规格:1. 面电阻量测范围: 1 mΩ/sq. to 2 MΩ/sq.(或更高)2. 样品尺寸:支持10mm至
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是德Keysight 7500 ILM 扫描探针显微镜
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MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜
技术参数 1.扫描系统: 1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线;AFM接触/横向力模式,力曲线测量 1.2 zei大扫描范围:50μm*50
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CDE resmap 178 四探针面扫描电阻率
50多项国际四探针测试仪领域的zl,保证业内技术领先!1.业界最高重复性,重复性≤ ±0.02% (静态或者标准电阻); 2.扫描速度最快的四探针电阻率测试仪:一分钟49个测量点; 3.最小
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Solver P47-Pro扫描探针显微镜
技术参数: 测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/ 静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压
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连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择: 自动上下片(Cassette to cassette, C2C) 室温至100°C 的测量(更高可选)可添加并
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安捷伦5500AFM/SPM
,50Hz,1A 美国安捷伦公司的5500系列是用于学术和应用研究中功能zei多样化的扫描探针显微镜。 主要特点: 美国安捷伦公司的5500系列是用于学术和应用研究中功能zei多样化的
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MCL MadPLL® 扫描探针显微镜通用控制器
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美国RHK 扫描探针控制单元R9 Plus
产地类别进口 R9plus 扫描探针显微镜控制器 产品简介: 继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得极大成功之后,其研发团队通过升级其
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FPP扫描四点探针测试仪 4ppscan
FPP扫描四点探针测试仪 产品性能 设计:可与同一仪器中的其他测量结合使用(参见TLM-SCAN++)易于清洁的玻璃真空吸盘关闭盖子时自动开始测量 PROBE HEADS:在几秒钟内改变由
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