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VERTEX 80/80v布鲁克VERTEX V80/80v傅立叶变换红外光谱仪 可检测光谱电化学
布鲁克VERTEX V80/80v傅立叶变换红外光谱仪VERTEX 80/80v可用于测定光谱电化学,适用于光谱电化学项目。并且参考多项行业标准光谱电化学。可应用于其它环境/能源行业领域。 计算机
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VERTEX V80/80v傅立叶变换红外光谱仪布鲁克VERTEX 80/80v 可检测探测器表征
布鲁克红外VERTEX 80/80v适用于探测器表征项目,参考多项行业标准探测器表征。可以检测探测器表征等样品。可应用于其它环境/能源行业领域。 计算机远程控制的5个光路出口及2个入口全真空设计
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6
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VERTEX V80/80v傅立叶变换红外光谱仪VERTEX 80/80v红外 适用于远红外/太赫兹(THz)
布鲁克红外VERTEX 80/80v适用于远红外/太赫兹(THz)项目,参考多项行业标准远红外/太赫兹(THz)。可以检测远红外/太赫兹(THz)等样品。可应用于其它环境/能源行业领域。 布鲁克
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VERTEX V80/80v傅立叶变换红外光谱仪红外VERTEX 80/80v 表面科学/超高真空腔室(UHV)联用
布鲁克红外VERTEX 80/80v参考多项行业标准表面科学/超高真空腔室(UHV)联用。完成表面科学/超高真空腔室(UHV)联用的检测。可以用在其它环境/能源行业领域中的表面科学/超高真空腔室
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