-
赛默飞 ICP-MS等离子体质谱仪ICP-MS iCAP 6000 Series ICP-OES法测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞 ICP-MS等离子体质谱仪iCAP™ TQ参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。完成六氟磷酸锂的检测。可以用在其他化工行业领域中的测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目
-
赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
-
赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
-
赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
-
赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门、转头和传动装置加热样品隔板确保样品
-
赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
-
赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
-
precisa 490IBK&ITK&ISK普利赛斯天平
瑞士原装进口490IxK系列工业天平,采用高精度电磁力传感器(MFR),代表瑞士精度和品质。这款超高性价比的高精度天平专为各种工业领域而设计,具有丰富的应用功能。精度范围为0.1-1g,量程为
-
普利赛斯precisa 490IBK&ITK&ISK天平
瑞士原装进口490IxK系列工业天平,采用高精度电磁力传感器(MFR),代表瑞士精度,瑞士品质,为所有工业领域量身打造的一款超高性价比的高精度天平,丰富的应用功能成为您工业领域首选。精度范围
-
天平 410SRC&SRS工业天平普利赛斯
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net