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氟化氢铵 杂质氟硅酸盐含量的测定 目视比色法
本方法适用于化学试剂氟化氢铵杂质含量氟硅酸盐的测定。氟硅酸盐(SiF6)最高含量:分析纯:0.2;化学纯:0.5。
来源:l0802102 资料
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工作基准试剂(容量)碘酸钾 硫酸盐杂质的测定 比浊法
本方法适用于含量为99.95%~100.05%工作基准试剂(容量)碘酸钾中硫酸盐杂质的测 定。
来源:l0802102 资料
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蛋白质 含量测定 微量凯氏( K j e l d a h l ) 定氮法
本方法采用微量凯氏(Kjeldahl)定氮法测定蛋白质的含量,适用于各类蛋白质测定范围0.2毫克—2.0毫克的氮
来源:l0802102 资料
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氨曲南杂质制备案例
来源:艾杰尔-飞诺美(Agela & Phenomenex) 资料
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Venusil XBP C18(L) 测定甘霖洗剂
来源:艾杰尔-飞诺美(Agela & Phenomenex) 资料
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Ultimate Hilic Amide 测定ASN-1092(L-赖氨酸)实验报告
来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
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pH基准试剂磷酸二氢钾 硫酸盐杂质的测定 比浊法
来源:l0802102 资料
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pH基准试剂磷酸氢二钠 硝酸盐杂质的测定 比色法
来源:l0802102 资料
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pH基准试剂磷酸氢二钠 硫酸盐杂质的测定 比浊法
来源:l0802102 资料
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钕_镝_镱原子L_1和L_2次壳层的荧光产额
摘要 分析了2 MeV质子电离钕、镝和镱产生的LX射线强度谱,求得了L1和Lz次壳层的荧光产额.它们的值与理论值、汇编值以及报道的实验值在误差范围内相符。
来源:F20090330 资料
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